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2024年3月25日发(作者：数组长度 python)
测试机中的名词
1.探针卡：ProbeCard；
2.测试负载板：LoadBoard;
3.晶片、电路单元：die;
4.测试一片晶圆：Circuit probing(CP测试)、Wafer porbing或者是Die sort
5.设计规格书：Specification；
6.探测：Probe；
7.结点:Bond Pad;
8.连接线：BondWire；
9.引脚：Pin；
10.针痕：Probe Mark；
11.陶瓷双列直插形式：CERDIP；
12.晶片腔：Die cavity；
13.再次检测：Final tese（FT测试）或是 Package test；
14.自动测试设备、测试系统：Automated Test Equipment（ATE）由电子电路和机械硬件组成；
15.插座：Socket；
16.手工测试：hand test；
17.机械手：handler；
18.比特位：bit；每8个比特一组构成一个Byte；
19.混合信号电路：Mixed Signal Devices;
20.算法模式生成器：algorithmic pattern generator（APG）；
21.小规模集成电路：SSI;
22.中规模集成电路：MSI;
23.超大规模集成电路：VLSI；
24.弹簧针：pogo pin；
25.被测器件：Device Under Test/Uint Under Test(DUT/UUT);
26.产量、收益、良率：yield；
27.晶圆：wafer；
28.测试晶圆：Wafer Test;
29.晶圆被切割成独立的电路单元：Package Test;
30.质量保证测试：Quality Assurance Test;
31.器件特性描述：Device Characterization;
32.在器件“Burn-in”之前和之后进行的测试：Pre/Post Burn-In;
33.军品测试：Miliary Test;
34.收货检验：Incoming Inspection;
35.封装验证：Assembly Verification;
36.失效分析：Failure Analysis；
37.并行DC测试：Parametric Measurement Unit参数测量单元（复合PMU）;
38.串行DC测试：单个PMU；
39.模式：pattern；
40.器件供电单元：Device Power Supplies(DPS);
41.参考电压源：Reference Voltage Supplies(RVS);
42.精密测量单元：Precision Measurement Uint(PMC);
DPS为被测器件的电源管脚提供电压和电流；
RVS为系统内部管脚测试单元的驱动和比较电路提供逻辑0和逻辑1电平提供参考电压，
这些电压设置包括：VIL、VIH、VOL和VOH；
PMC进行精确的DC参数测试。
43.测试头：Test Head;
44.存储器：pattern memory或是vector memory;
45.测试向量：vector或是pattern;
46.驱动信号:Drive;
47.驱动：dorce/apply;
48.驱动线路和感知线路：Force and Sense Lines;
49.量程设置：Range Setting;
50.边界设置：Limit Setting;
51.钳制设置：Clamp Setting;
52.电流钳制边界：clamp；
53.测试边界：limit；
54.管脚电路：the Pin Electronics(也叫PinCard、PE、PEC或I/O Card）；
55.格式化信号：FDATA；
56.电压：voltage；
57.电流负载单元：Current load；
58.电流：current；
59.电压比较单元：Voltage Receiver；
连接点：PMU Connection；
61.高速电流比较单元:High Speed Current Comparators;
62.快速漏电流：Leakage；
63.闩锁：latch-up；
64.开短路测试：Open-Short Test/Continuity Test或Contact Test;
65.封装接线：bond wire;
66.串行：Serial;
67.数据记录：datalog；
68.热切换：Hot Switching;
69.继电器：relay；
70.装箱：binning；Hard binning控制物理硬体实体（）；Soft bingning控制软件计数器（）；
71.故障寻找：Trouble Shooting;
72.总额、总数：gross；
电路中：IDD分为动态和静态，Drain to GND；流动到地端；
电路中 称为ICC；
75.输出短路电流：output short circuit current（IOS）；
76.输出屏蔽：Output Mask；
77.输出采样：Output Sampling;
78.测试向量/测试模式：Test Patterm;
79.真值表：Truth Tables;
80.信号格式：Signal Format;
81.电源电平：VDD Min/Max DUT;
输入电平：VIL/VIH；
输出电平：VOL/VOH;
输出电流负载：IOL/IOH;
切换点：VREF IOL/IOH;
测试频率:Test Frequency;
时钟/建立时间/保持时间/控制信号:Input Signal Timings;
输入波形：Input Signal Formats;
周期内何时采样：Output Timings;
向量文件的起始/终止点：Vector Sequencing;
82.测试周期：test cycle或test period；
83.每个周期的起始点：time zero或T0；
84. 输入数据：
测试向量数据（给到DUT的指令或激励）；
输入信号时序(信号传输点)；
输入信号格式（信号波形）；
输入信号电平（VIH/VIL）；
时序设置选择（如果程序中有不止一套时序）。
85. 信号格式：
不返回：Non Return to Zero(NRZ);
延迟不返回：Delayed Non Return to Zero(DNRZ);
返回0： Return to Zero(RZ);
返回1： Return to One(RO);
补码环绕：Surround By Complement(SBC);
高阻驱动：Impendance Drive(ZD);
测试的输出负载：Output Loading for AC Test;
87.向量数据：Vector Data;
88. 功能测试参数定义：Functional Specifications;
89.总功能测试：Gross Function Test;
90.基础功能测试：Basic Function Test;
91.摆动测试：Wiggle Test;
92.时钟变量：SCALE;
93.脱机：non-Tester;
94.参考电压：VREF；
95.缓冲器/缓冲区：buffer；
96.测试数据总线建立时间（DBST）；
97.传输延迟：Output Propagation Time;
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