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2024年1月12日发(作者：登录页面php代码)

集成电路边界扫描测试中的电路网表结构分析

集成电路边界扫描测试（Boundary Scan Testing，BST）是一种广泛应用于VLSI设计和制造中的测试技术。BST是一种将测试功能集成到复杂的芯片设计中的方法，它可以诊断集成电路中的任何一个缺陷，从而提高产品的质量和性能。BST采用的核心技术是边界扫描技术（Boundary Scan），用于测试芯片的连接性、可编程逻辑器件（Programmable Logic Devices，PLD）和电路的故障诊断。

在BST中，电路网表结构分析是非常关键的一个步骤。电路网表结构指的是VLSI集成电路中各个模块相互连接的电路线路结构，也就是电路的物理连接方式。电路网表结构分析的主要目的是找出部分设计错误和模块之间的错误连接，以确保VLSI集成电路在边界扫描测试过程中能够被正确地测试。

电路网表结构分析需要一些专门的工具和软件来实现。首先，我们需要对VLSI集成电路进行仿真和验证，确定其运行正确。然后，需要将电路分解成多个模块和其相应的边界扫描单元（Boundary Scan Cells）。 Boundary Scan Cells是一种可设置逻辑器件，可以被串联到某个端口上，常常与电路网表结构密切相关。

在电路网表结构分析的过程中，我们需要同时验证电路网表结构和单元测试。我们可以通过检查边界扫描链上的信号线路和寄存器电路是否正确来检测电路网表结构错误。如果有任何电路连接错误，那么边界扫描测试将无法在这些错误地连接的边界扫描单元上进行正确测试，从而导致电路测试失败。

电路网表结构分析在VLSI设计过程中非常重要，它可以帮助我们找出设计中的错误和潜在的问题，最终确保集成电路在真正的测试前可以顺利进行边界扫描测试，从而提高产品的质量和性能。在今后的VLSI设计工作中，电路网表结构分析将继续发挥重要作用，帮助人们设计出更加合理、优秀的电路设计。


本文标签： 电路 结构 测试

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