化学检测相关中英文对照

TEM: Subject index

Aberration 像差

chromatic 色差

spherical 球差

astigmatic 像散

Absorption coefficient 吸收系数

abnormal 反常吸收系数

uniform 均匀吸收系数

Aperture 光阑

objective aperture 物镜光阑

selective area aperture 选区光阑

condenser lens aperture 聚光镜光阑

size 光阑尺寸

Astigmatism 像散

Anomalous absorption coefficient 反常吸收系数

Alignment of electron microscope

电子显微镜的对准

Antiphase domains 反相畴

Antiphase domain boundaries 反相畴界

Artefacts in specimens 样品中的人为缺陷

Atomic scattering amplitude 原子散射振幅

Back focal plane 后焦面

Beam current density 束流密度

Beam direction 电子束方向

Bend contours 弯曲条纹

Bend center 弯曲中心

Bend extinction contours 弯曲消光条纹

Bright field 明场

Bright field image 明场像

Burgers vector determinations柏氏矢量确定

Calibration of electron microscope

电子显微镜的校准

Camera constant 相机常数

Camera length 相机长度

Cavities 空洞

Characteristic images from a perfect crystal

完整晶体特征图像

thickness fringes 厚度消光条纹

bend extinction contours 弯曲消光条纹

bend contours 弯曲条纹

bend center 弯曲中心

Chemical polishing for specimen preparation

试样的化学抛光

Chromatic abberation

色差

Coherency of precipitates 沉淀相的共格性

Coherency strain contrast 共格应变衬度

Column approximation 晶柱近似

Condenser lens 聚光镜

Constrained strain 约束应变

Dark field 暗场

Dark-field images 暗场像

Defocus 欠焦

Deformation of specimen 试样变形

Depth of field 景深

Depth of focus 焦深

Deviation parameter 偏移参量

effective value of 有效偏移参量

Diffraction contrast 衍射衬度

Diffraction function 衍射函数

Diffraction mode 衍射模式

Diffraction pattern 衍射花样

Diffraction theory 衍射理论

Direct lattice images 直接点阵像

Dislocations 位错

contrast from 位错衬度

density of 位错密度

determination of Burgers vector of

位错柏氏矢量的确定

displacement fields around 围绕位错的位移场

nodes 位错结

perfect (whole) 完全位错

partial 不全位错

Displacement fringe contrast from precipitates

沉淀相粒子的位移条纹衬度

Domain boundaries 畴界

Double condenser lens 双聚焦透镜

Double diffraction 双衍射

Dynamical theory of electron diffraction

电子衍射的动力学理论

Edwald sphere 厄瓦尔德球

Effective value 有效(值)

deviation parameter 有效偏移参量

extinction distance 有效消光距离

Electron beam 电子束

transmitted 透射(电子)束

diffracted 衍射(电子)束

Electron diffraction 电子衍射

Electron diffraction patterns 电子衍射花样

accuracy of 电子衍射花样的精度

1

calibration of 电子衍射花样的校准

effects of crystal shape

电子衍射花样的形状效应

indexing of 电子衍射花样的标定

Kikuchi lines 菊池线花样

polycrystalline ring 多晶环状衍射花样

single crystal spot 单晶斑点衍射衍射

streaks on 电子衍射花样的芒线

damage by 试样照明引起的破坏

Image 图像

bright field 明场像

dark field 暗场像

intermediate 中间像

rotation of 像转

Image contrast 图像衬度

origin of 图像衬度的来源

Electron gun 电子枪

Electron microscope 电子显微镜

analytical 分析电镜

attachments for 电子显微镜的附件

high resolution 高分辩电镜

magnification of 电子显微镜的放大倍数

ray diagrams for 电子显微镜的光路图

resolving power of 电子显微镜的分辩力

transmission 透射电镜

Electron microscopy 电子显微学(术)

analytical 分析电子显微学(术)

conventional 常规电子显微学

high resolution 高分辩电子显微学(术)

transmission 透射电子显微学

Electron wavelengths 电子波长

Electropolishing for specimen preparation

电解抛光制备电镜试样

Extinction 消光

Extinction contours 消光条纹

Extinction distance 消光距离

Extrinsic 插入型的

Faults 缺陷

Focus distance 焦距

Foil thickness 薄膜厚度

measurement of 膜厚测量

Fringes 条纹

displacement 位移条纹

magnetic domain wall 磁畴壁条纹

moire Moirre条纹

precipitates, from 由沉淀相粒子引起的 条纹

stacking fault 层错条纹

thickness 厚度条纹

Goniometer stage 测角台

Heating stages 加热台

High order Laue Zone 高阶劳厄区

High resolution electron microscopy 高分辩电镜

Identification of precipitates 沉淀相鉴别

Illumination of specimen 试样照明

contamination by 试样照明引起的污染

antiphase domains, from 反相畴图像衬度

antiphase domain boundaries, from

反相畴界图像衬度

cavities, from 空洞图像衬度

dislocations, from, 位错的衬度

dipoles 位错偶极子的衬度

double images 位错双线衬度

edges 刃型位错衬度

general dislocation 一般位错的衬度

inclined 倾斜位错的衬度

invisibility criteria for 位错不可见位错

loops 位错圈的衬度

oscillation effects at 位错衬度的振荡效应

partial 不全位错的衬度

screws 螺型位错的衬度

superdislocations 超位错的衬度

surface relaxation effects

位错衬度的表面松弛

效应

visibility rules for 位错不可见规律

width of images 位错图像宽度

partial dislocations 不全位错的衬度

Frank Frank位错的衬度

Schockley Schockley位错的衬度

precipitates,from, 沉淀相粒子的衬度

coherency strain field images

沉淀相粒子的共格应变场衬度

dislocation ring contrast

沉淀相粒子的位错圈衬度

displacement fringe contrast

沉淀相粒子的位移条纹衬度

matrix contrast 沉淀相粒子的基体衬度

moire fringes 沉淀相粒子的Morrie条纹衬度

orientation contrast 沉淀相粒子的取向衬度

structure factor contrast

沉淀相粒子的结构因子衬度

visibility of 沉淀相粒子的可见性

stacking faults, from, 层错引起的衬度

determination of nature of 层错性质的确定

twin boundaries, from 孪晶界的衬度

2

Image force 镜像力

Image formation 图像形成(成像)

Abby’s theory of Abby成像理论

Image function 像函数

Image mode 图像模式

Image plane 像平面

Image rotation 像转

Inclusions 夹杂

Indexing of electron patterns 电子衍射花样标定

trier and error 尝试校核法

known camera constant 已知相机长度

standard diffraction patterns 标准衍射谱法

computer simulation 计算机标定法

ambiguous 不唯一性

Inelastic scattering 非弹性散射

Interface contrast 界面衬度

Intermediate image 中间像

Intermediate image plane 中间像平面

Intrinsic 抽出型的

Ion bombardment technique for specimen

preparation 离子束轰击制样法

Kikuchi pattern 菊池线花样

Kikuchi lines 菊池线

Kikuchi maps 菊池线图

Kinematical theory of diffraction contrast

运动学衍衬理论

Lattice image 点阵像

two beam 双束点阵(平面)像

many beam 多束点阵像

structure image 结构像

Lattice plane spacing 点阵面间距

Laue circle 劳厄园

Laue zones 劳厄区

high order 高阶劳厄区

Line defect 线缺陷

Line of no contrast 无衬度线

Magnetic lens 电磁透镜

aberrations of 电磁透镜的像差

focal length of 电磁透镜的焦距

pole-piece of 电磁透镜的极靴

Many-beam effects 多束效应

Measurements of; dislocation density,

位错密度测量

elastic strain fields of precipitates

沉淀相粒子弹性应变场测量

foil thickness 膜厚测量

precipitate size, 沉淀相粒子尺寸测量

stacking fault energy 层错能测量

nodes, by 用位错结测量层错能

ribbon widths, by 用层错带宽度测量层

错能

Microanalysis 微区分析

Moire patterns Moire花样

from precipitates 沉淀相粒子Moire花样

mixed 混合Moire条纹

parallel 平行Moire条纹

rotation 旋转Moire条纹

spacing of Moire条纹间距

Nodes, extended threefold, 三维扩展位错结

stacking fault energy from

三维扩展位错结测量层错能

Objective wave function 物波函数

Objective lens 物镜

Operating vector 操作矢量

Operation reflection 操作反射

Orientation determination 取向确定

Orientation relationship 取向关系

Parallel moire patterns 平行Moire条纹

Partial dislocations, contrast from

平行位错的衬度

determination of Burgers vectors of

位错柏氏矢量的确定

Frank Frank位错柏氏矢量确定

Shockley Shockley位错柏氏矢量确定

Particles 粒子

Planar defect 面缺陷

Point defects in specimen 试样中的点缺陷

Pole-piece of magnetic lens 电磁透镜极靴

Precipitates 沉淀相粒子

contrast from 沉淀相粒子衬度

size of 沉淀相粒子尺寸

visibility of 沉淀相粒子可见性

Precipitation contrast 沉淀相衬度

Projective lens 投影镜

Reciprocal lattice 倒易点阵

construction 倒易点阵的构筑

definition of 倒易点阵的定义

properties of 倒易点阵的性质

Replica 复型

Resolution 分辩率

Ring diffraction patterns 环状衍射花样

Rotation moirre patterns 旋转Moirre花样

Satellites on electron diffraction patterns

衍射花样卫星斑点

3

Scattering amplitude 散射振幅

Scattering of electrons 电子散射

Second phase particles 第二相粒子

Selected area diffraction 选区电子衍射

accuracy of 选区电子衍射的精度

Viewing screen

Weak beam technique

Weak beam dark field image

Zone

Zone law

荧光屏

弱束技术

弱束暗场象

晶带

晶带定理

Shape effect 形状效应

Single crystal diffraction patterns

单晶电子衍射花样

Specimen 试样

contamination of 试样污染

cooling of 试样冷却

deformation of 试样变形

heating of 试样加热

microanalysis of 试样微区分析

orientation of 试样的取向

preparation of 试样制备

chemical machining 试样加工

chemical polishing, by 用化学抛光制备试样

ion bombardment, by 离子轰击制备试样

electropolishing 电解抛光制备试样

jet machining, by, 电解双喷制样法

Specimen holder 试样台

top enrty 顶插式试样台

side entry 侧插式试样台

Spherical aberration 球差

Spinodal decomposition 拐点分解

Stacking faults 层错

contrast of 层错的衬度

determination of nature of 确定层错的性质

energy of 层错能

types of 层错类型

Sterogram 极图

Stereomicroseopy 体视显微术

Stigmator 消像散器

Strain fields 应变场

Streaks on electron diffraction patterns

衍射花样的星芒线

Structure factor 结构因子

contrast from, 结构因子衬度

Subsidiary fringe 副条纹

Superlattice 超点阵

reflections 超点阵反射

Theory of diffraction contrast 衍射衬度理论

kinematic 运动学衍衬理论

dynamic 动力学衍衬理论

Two beam approximation 双束近似

Uniform absorption coefficient 反常吸收系数

Zone axis 晶带轴

Zone axis patterns 晶带轴花样

4

HREM

Airy disc Airy园(盘)

Amplitude object 振幅物

Amplitude contrast 振幅衬度

Astigmatism 像散

Astigmator 消像散器

Axial 轴向照明

Axial alignment 合轴调整

Chromatic aberration coefficient色差系数

Chromatic aberration 色差

Chromatic aberration limited resolution

色差限制的分辩率

Cluster 偏聚区

Coherence 相干性

Defocus 欠焦

Diffraction contrast 衍射衬度

Diffraction limit 衍射极限

Diffraction limited resolution 衍射限制的分辩率

Diffused circle 弥散园

Exact focus 准确聚焦

Experimental condition 实验条件

Exsolution 脱溶

Focus 聚焦, 焦距, 焦点

Focal length 焦距

Frensnel fringes 菲捏尔条纹

Grain boundaries 晶界

small angle 小角度晶界

high angle 大角度晶界

symmetrical 对称晶界

asymmetrical 不对称晶界

tilt 倾斜晶界

Guinier-Preston zones GP区

HREM images 高分辩电镜图像

interpretation 高分辩电镜图像的解释

information available 高分辩电镜图像的信息

image analysis of 图像分析

computer simulation of 计算机模拟

Illumination 照明

axial 轴向照明

tilted 倾斜照明

Illumination semi-angle 照明半角

Image analysis 图像分析

Imaging mode 图像模式

lattice plane 点阵平面像

many beam 多束点阵像

structure 结构像

Image restoration 图像修复

Incident wave 入射波

Interaction constant 交互作用常数

Interplanar spacing 面间距

Internal standards 内标

Line to line resolution 线分辩率

Multi-slice approximation 多片近似

Optical diffraction 光学衍射

Optimum defocus 最佳欠焦(量)

Optimum resolution 最佳分辩率

Optimum illumination semi-angle 最佳照明半角

Optimum aperture size 最佳光阑尺寸

Order/disorder transition 有序/无序转变

Orientation 取向

Bragg Bragg取向

Laue Laue取向

Over focus 过焦

Phase change 相位变化

induced by defocus 欠焦引起的相位变化

by spherical aberration 球差引起的相位变化

Phase contrast 相位衬度

Phase contrast transfer function 相位衬度传递函数

Phase grating 相位光栅

Phase grating approximation 相位光栅近似

Phase object 相位物

Phase object approximation 相位物近似

Phase shift 相位变化

Phase transition 相转变

Phase transformation 相变

Point source 点源

Point to point 点分辩率

Projected potential 投影势

Propagation function 传递函数

Polymorphism 多型性(转变)

Resolution 分辩率

line to line 线分辩率

point to point 点分辩率

Resolution limit 分辩率极限

Scattered wave 散射波

Spherical aberration 球差

Spherical aberration coefficient 球差系数(C

S

)

Spherical aberration limited resolution

球差限制的分辩率

5

Tilted illumination 倾斜照明

Through focus series 聚焦系列

Two beam lattice plane imaging双束点阵平面像

Two beam lattice fringe imaging双束点阵条纹像

Weak phase approximation

弱相位近似

6

AEM

A

amorphous carbon 非晶碳

EELS absolute quantification 用于EELS绝对定量

analytical electron microscope 分析电镜

alignment 对中

calibration for EELS or EDS EELS或EDS定标

analytical electron microscopy 分析电子显微学

annular dark-field imaging 环状暗场像

annular detector 环状探头

apertures 光阑

2nd condenser lens (C

2

) 第二聚光镜光阑

effect on microanalysis 对微区分析的影响

effect on microdiffraction 对微束衍射的影响

effect on probe convergence 对探针会聚性的影响

objective 物镜光阑

selected area (SA) 选区光阑

ultra-thick 超厚光阑

brightness of electron source

电子源亮度

C

calibration 校准, 定标

cathode ray tube 阴极射线管

cathodoluminescence 阴极荧光(辐射)

Cliff-Lorimer equation Cliff-Lorimer 公式

condenser lens

—

first (C

1

) 第一聚光镜

condenser lens

—

second (C

2

) 第二聚光镜

condenser objective lens 聚光镜物镜

contamination 污染

use to determine thickness 用于厚度测定

continuum X-rays 连续(背底)X-射线

convergent beam diffraction 会聚束衍射

use to determine thickness 用于厚度测定

convergent beam diffraction patterns (CBDP)

会聚束衍射花样

convergent electron probe 会聚电子探针

crystal point group (晶体)点群

Auger electrons

electron spectroscopy

俄歇

俄歇谱

B

background spectrum 本底(背底)谱

in EELS EELS背底谱

subtraction in EDS 扣除EDS谱背底

subtraction in EELS 扣除EDS谱背底

X-rays 扣除X-射线背底

(请参见 bremsstrahlung 和 continuum)

backscattered electrons 背散射电子

detector 背散射电子探头

images 背散射电子像

beam 电子束

beam damage 电子束损伤

beam-sensitive specimens 电子束敏感试样

beam-specimen interactions 电子束-试样交互作用

beam spreading 电子束扩展

beryllium window 铍窗

bremsstrahlung X-rays 背底辐射X-射线

bright field detector 明场探头

bright field image in STEM STEM 明场像

D

dark field detector 暗场探头

dark field image in STEM STEM暗场像

deconvolution 解谱, EDS或EELS

of EDS spectrum, of EELS spectrum

diad symmetry 二次对称

diffraction groups 衍射群

diffraction maxima 衍射极大值

E

EDS (Energy Dispersive Spectroscopy) 能谱(能量色散

7

谱)

EDS defector 能谱探头

EELS spectrometer 电子能量损失谱仪

EELS 电子能量损失谱

(electron energy loss spectrum)

zero loss peak 零损失峰

plasmon peak 等离子振荡峰

energy loss peaks 能量损失峰

ionization edge 电离损失峰(边)

background subtraction 背底扣除

elastic scatter 弹性散射

electron detectors 电子探头

collection angle 收集角

electron energy loss spectrometer电子能量损失谱仪

electron energy loss spectrometry电子能量损失谱

energy loss processes 电子能量损失过程

imaging/mapping 电子能量损失成象

ionization losses 电离损失

limitations 极限

plasmon losses 等离子振荡损失

spatial resolution 空间分辨率

electron-hole pairs 电子-空位对

electron probe 电子探针

brightness 亮度

convergence angle 会聚角

current 电流

diameter 直径

energy dispersive spectrometer 能谱仪

(See X-ray energy dispersive

spectrometer)

energy filtered images 能量过滤图像

extended absorption fine structure 广延吸收精细结构

extraction replica 萃取复型

F

first order laue zone (FOLZ) 一阶劳厄区

fine structure in ionization edge 电离峰(边)精细结构

post-edge (EXAFS) 峰后(EXAFS)

pre-edge 峰前

forbidden reflections 禁止反射

full width half maximum 半高宽

G

g vector g矢量

Gaussian 高斯

H

hard X-rays 硬X-射线

higher order laue zone (HOLZ) 高阶劳厄区

indexing 标定

lines 高阶劳厄区线

reflections 高阶劳厄区反射

rings 高阶劳厄区环

HOLZ lines 高阶劳厄区线

I

illumination system 照明系统

imaging in STEM STEM成像

image enhancement 图像增强

Indexing 标定

HOLZ lines 高阶劳厄区线

HOLZ patterns 高阶劳厄区花样

ZOLZ patterns 零阶劳厄区花样

inelastic scatter

(See also electron energy loss)

非弹性散射

58

effect on EDS 对EDS的影响

effect on EELS 对EELS的影响

ionization 电离

ionization edges 电离损失峰(边)

post-edge fine structure 峰后精细结构

pre-edge fine structure

峰前精细结构

K

Kossel patterns (conditions) Kossel花样

Kossel-Möllenstedt fringes use to determine thickness

K-M条纹9用于确定试样厚

度)

8

Kossel-Möllenstedt (K-M) patterns K-M花样

L

lanthanum hexaboride gun 六硼化镧电子 枪

lattice parameter determination 点阵常数确定

lattice strain 点阵应变

effect on HOLZ lines 对高阶劳厄区线的影响

lenses 透镜

auxiliary 辅助透镜

condenser 聚光镜

condenser-objective 聚光镜-物镜

intermediate 中间镜

objective 物镜

projector

投影镜

light element analysis by EDS EDS轻元素分析

by EELS EELS轻元素分析

limitations to X-ray analysis X-射线分析极限

low loss electrons 低能量损失电子

M

microdiffraction 微束衍射

microprobe mode 微区探针模式

minimum detectable mass 最小可探测质量

minimum mass fraction 最小质量分数

N

0

objective aperture 物镜光阑

objective lens 物镜

P

peak to background ratio 峰/背比

in EDS spectrum EDS谱

in EELS spectrum EELS谱

(See also signal to noise ratio) 参见信/噪比

phonon energy loss 声子能量损失

plasmon energy losses 等离子振荡能量损失

probe convergence angle 探针会聚角

Q

qualitative analysis 定性分析

using EDS EDS定性分析

using EELS EELS定性分析

quantitative analysis 定量分析

using EDS EDS定量分析

using EELS EELS定量分析

R

radial distribution function 径向分布函数

radiation damage 辐射损伤

resolution 分辨率

of EDS spectrometer EDS谱仪分辨率

ot EELS spectrometer EELS谱仪分辨率

of STEM image STEM图像分辨率

Riecke microdiffraction Riecke法微束衍射

S

scanning electron microscope 扫描电镜

scanning images 扫描图像

scanning transmission electron microscope

扫描透射电镜

screw axis 螺旋轴

second order laue zone (SOLZ) 二阶劳厄区

secondary electrons 二次电子

detector

sensitivity limits 灵敏度极限

in EDS EDS

in EELS EELS

space group 空间群

spurious effects 杂散效应

signal processing 信号处理

signal to noise ratio

(See also peak to background ratio) 信/噪比

spatial resolution 空间分辨率

9

in EDS EDS

in EELS EELS

in microdiffraction 微束衍射

in STEM image STEM图像

spurious effects 杂散效应

in EDS spectrum EDS谱杂散效应

stationary diffraction pattern 稳定衍射花样

strain measurements 应变测量

symmetry (crystal) (晶体)对称

changes 对称变化

determination 对称确定

systematic absences 系统消光

T

terminology of CBDPs 会聚束衍射术语

thickness determination 厚度确定

transmitted electrons 透射电子

triad symmetry 三重(次)对称

tungsten hairpin filament 钨灯丝

U

ultra-thin window 超薄窗

ultra-thick condenser apertures 超厚聚光镜光阑

V

valence electron interactions 价电子交互作用

w

wavelength dispersive spectrometer (WDS)

波谱仪

weak beam imaging 弱束暗场成象

x

X-ray(s) X-射线

Absorption 吸收

fluorescence generation 荧光的产生

images/maps 像/成份分布

ionization cross section 电离截面

microanalysis 微区分析

X-ray energy dispersive spectrometer

X-射线能谱仪

Calibration 校准, 定标

collection angle 接收角

dead layer 死层

dead time 死时间

efficiency 效率

X-ray peak X-射线峰

peak fitting in EDS 能谱峰位拟合

X-ray spectrum X-射线谱

background subtraction 背底扣除

deconvolution 解谱

digital filtering 数字过滤

Y

yttrium-aluminum garnet 钇铝石榴石

yttrium-aluminum perovskite 钇铝钙钛矿

z

Z-contrast 原子序数衬度

ZAF

correction ZAF校正

zero loss peak 零损失峰

zero order laue zone (ZOLZ) 零阶劳厄区

indexing 标定

pattern symmetry 对称性

zone axis 晶带轴

patterns 晶带轴花样

symmetry 对称性

10